| Attēls | KEY atslēgas numurs / ražotājs | Apraksts / PDF | Daudzums / RFQ |
|---|---|---|---|
 |
Texas Instruments |
IC TXRX ADJ EDGE 8BIT 56BGA. |
6635gab krājumi |
 |
Texas Instruments |
IC TXRX 7BIT TTL/BTL 52-QFP. |
6627gab krājumi |
|
Texas Instruments |
IC TXRX 7BIT TTL/BTL 52-QFP. |
6618gab krājumi |
|
Texas Instruments |
IC TXRX 7BIT TTL/BTL 52-QFP. |
6610gab krājumi |
|
Texas Instruments |
IC TXRX 8BIT TTL/BTL 52-QFP. |
6603gab krājumi |
|
Texas Instruments |
IC REGISTERED TXRX 8BIT 52-QFP. |
6594gab krājumi |
 |
Maxim Integrated |
IC DCL QUAD 300MHZ ATE 80TQFP. |
1948gab krājumi |
|
Texas Instruments |
IC TXRX ADDRESS/DATA 9BIT 52-QFP. |
6577gab krājumi |
|
Texas Instruments |
IC REGISTERED TXRX 8BIT 52-QFP. |
6570gab krājumi |
|
Texas Instruments |
IC TXRX ADDRESS/DATA 9BIT 52-QFP. |
6561gab krājumi |
 |
Texas Instruments |
IC FULL ADDER 4BIT BIN 16SO. |
6553gab krājumi |
|
Texas Instruments |
IC FULL ADDER 4BIT BIN 16SO. |
6544gab krājumi |
 |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP. |
6537gab krājumi |
|
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP. |
6529gab krājumi |
 |
Texas Instruments |
IC FULL ADDER 4BIT BIN 16-SOIC. |
6520gab krājumi |
 |
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC. |
6512gab krājumi |
|
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC. |
6505gab krājumi |
|
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC. |
6496gab krājumi |
|
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP. |
10587gab krājumi |
|
Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP. |
6480gab krājumi |
Klasifikācijas lapas
- Loģika - speciāla loģika - Lappuse18
- Loģika - speciāla loģika - Lappuse19
- Loģika - speciāla loģika - Lappuse20
- Loģika - speciāla loģika - Lappuse21
- Loģika - speciāla loģika - Lappuse22
- Loģika - speciāla loģika - Lappuse23
- Loģika - speciāla loģika - Lappuse24
- Loģika - speciāla loģika - Lappuse25
- Loģika - speciāla loģika - Lappuse26
- Loģika - speciāla loģika - Lappuse27
success